mm、mm的mm間距離刻劃的光學(xué)尺，其差錯有必要小于儀器的標(biāo)稱測量差錯，一般需求運用μm級精度光學(xué)尺。讓其對總長校對后，讓儀器一格一格進(jìn)行測量，夾線嚴(yán)格對準(zhǔn)后所得測量值與標(biāo)值的差錯不能大于線性精度的計算結(jié)果；測完全程后，讓其回測原點，重合精度不能大于儀器標(biāo)稱值。測量過程盡量減小對線禁絕的人為差錯的影響，得到儀器綜合功用的關(guān)鍵指標(biāo)。

不要運用工件作為檢驗的依據(jù)：

  首要，因為現(xiàn)場環(huán)境溫度的影響，不要運用熱膨脹系數(shù)較大的金屬材料工件作為實測樣件；其次，有必要運用邊線明晰的光學(xué)尺，以避免因為造影和選點對位禁絕引起的讀數(shù)差錯，盡量接近真值。特別是不能運用軸類器件，印象測量存在邊渡面投影造影禁絕會引起較大差錯的技術(shù)局限。換句話說需求避開原理局限，盡量得到儀器正常運用中的精度值。